特許
J-GLOBAL ID:200903025060586029
バイポーラトランジスタ
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (11件):
前田 弘
, 竹内 宏
, 嶋田 高久
, 竹内 祐二
, 今江 克実
, 藤田 篤史
, 二宮 克也
, 原田 智雄
, 井関 勝守
, 関 啓
, 杉浦 靖也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-185794
公開番号(公開出願番号):特開2008-016615
出願日: 2006年07月05日
公開日(公表日): 2008年01月24日
要約:
【課題】2次元正孔ガス層をp型ベースとし且つ窒化物系半導体からなり高速に動作するバイポーラトランジスタを実現できるようにする。【解決手段】バイポーラトランジスタは、窒化物半導体からなる第1の半導体層14を含むエミッタ層と、第1の半導体層14と比べてバンドギャップが小さい窒化物半導体からなり且つ第1の半導体層14と接して形成された第2の半導体層15を含むベース層と、第2の半導体層15における第1の半導体層14とは反対側の面と接して形成された窒化物半導体からなる第3の半導体層16を含むコレクタ層とを備えている。第2の半導体層15における第1の半導体層15と第2の半導体層14との界面領域には、2次元正孔ガス層が発生し、ベース層の一部と接するように選択的に形成されたベース電極19は、2次元正孔ガス層とオーミック接続している。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1の窒化物半導体層を含むエミッタ層と、
前記第1の窒化物半導体層と比べてバンドギャップが小さく且つ前記第1の窒化物半導体層と接して形成された第2の窒化物半導体層を含むベース層と、
前記第2の窒化物半導体層における前記第1の窒化物半導体層とは反対側の面と接して形成された第3の窒化物半導体層を含むコレクタ層と、
前記第2の窒化物半導体層における前記第1の窒化物半導体層と前記第2の窒化物半導体層との界面領域に発生する2次元正孔ガス層と、
前記ベース層の一部と接するように選択的に形成され、前記2次元正孔ガス層とオーミック接続したベース電極とを備えていることを特徴とするバイポーラトランジスタ。
IPC (4件):
H01L 21/331
, H01L 29/737
, H01L 29/88
, H01L 29/68
FI (3件):
H01L29/72 H
, H01L29/88 F
, H01L29/68
Fターム (19件):
5F003AZ01
, 5F003BA92
, 5F003BB04
, 5F003BB08
, 5F003BB90
, 5F003BC01
, 5F003BC08
, 5F003BC90
, 5F003BE01
, 5F003BE04
, 5F003BE08
, 5F003BE90
, 5F003BF06
, 5F003BJ12
, 5F003BM02
, 5F003BM03
, 5F003BN02
, 5F003BN06
, 5F003BP31
引用特許:
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