特許
J-GLOBAL ID:200903025095926876

X線診断用組成物、その製造方法、及びそれによる診断方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 宇井 正一 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-280891
公開番号(公開出願番号):特開平6-192131
出願日: 1993年11月10日
公開日(公表日): 1994年07月12日
要約:
【要約】【目的】 X線診断用造影剤組成物とその製造方法、及び該組成物を用いた診断方法を提供する。【構成】 該組成物は、高分子量界面活性剤が表面改質剤として表面に吸着しており且つ曇点調節剤が組み合わされている、X線診断用化合物を含有するナノ粒子から構成されている。該組成物の製造方法は、(1)X線診断用化合物を含有するナノ粒子と非イオン性界面活性剤とを接触させる工程、並びに(2)工程(1)で得られた表面改質剤が表面に吸着しているナノ粒子と曇点調節剤とを接触させる工程、から構成されている。
請求項(抜粋):
高分子量界面活性剤が表面改質剤として表面に吸着しており且つ曇点調節剤が組み合わされている、X線診断用化合物を含有するナノ粒子から構成されている組成物。

前のページに戻る