特許
J-GLOBAL ID:200903025142932960
画像評価方法及びその装置並びにこれを用いた画像形成装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小泉 雅裕 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-248855
公開番号(公開出願番号):特開平9-068830
出願日: 1995年09月01日
公開日(公表日): 1997年03月11日
要約:
【要約】【課題】 画像の細線部の再現性を簡単且つ正確に評価する。【解決手段】 レーザフォーカス変位計2と、レーザフォーカス変位計2と画像支持体1との相対距離を一定に保ちながら、レーザフォーカス変位計2若しくは画像支持体1上の画像Gを画像幅mよりも十分細かいピッチpで画像幅m方向に沿って移動走査する可動ステージ3と、この可動ステージ3の移動走査に伴うレーザフォーカス変位計2の各走査点に対応する画像G表面位置に関する測定結果に基づいて画像Gの断面プロファイルを算出する断面プロファイル算出手段4とを備え、必要に応じて断面プロファイル描画手段5を設ける。また、評価パターン生成手段6にてテストプリントモード時にテストプリントの一部に画像再現性評価パターンPTを生成し、画像形成条件調整手段7にて画像再現性評価パターンPTに対する評価結果に基づいて画像形成条件を自動調整する。
請求項(抜粋):
粉体現像剤を使用して可視像化された画像(G)を評価する画像評価方法において、画像支持体(1)上の画像(G)を画像幅(m)よりも十分に細かいピッチ(p)の光ビーム(Bm)で画像幅(m)方向に沿って走査し、各走査点毎の光ビーム(Bm)状態を測定することにより各走査点毎の画像(G)表面位置を測定する画像表面測定工程(A)と、この画像表面測定工程(A)による測定結果に基づいて画像(G)の断面プロファイルを算出する断面プロファイル算出工程(B)とを備えたことを特徴とする画像評価方法。
IPC (2件):
G03G 15/00 303
, G01B 11/24
FI (2件):
G03G 15/00 303
, G01B 11/24 F
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