特許
J-GLOBAL ID：200903025182634458
ソフトウェア自動試験システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
磯村 雅俊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-236400
公開番号（公開出願番号）：特開平7-093185
出願日： 1993年09月22日
公開日（公表日）： 1995年04月07日
要約：
【要約】【目的】 試験シナリオの再利用性を向上させ、種々の試験環境および条件での同一内容のソフトウェア自動試験を高効率化および高信頼化する。【構成】 複数の試験環境・条件下で共通な試験手順と、各試験環境・条件下で異なる試験データとを記述した各試験シナリオを用いるソフトウェア自動試験システムにおいて、試験環境・条件下で異なる各試験データを各試験環境・条件で共通な変数名で記述した共通試験シナリオ5bと、試験環境・条件別に各試験データを変数名に対応付ける試験データリスト5aと、共通試験シナリオに記述された変数名を、試験データリストを参照して、試験環境・条件に対応する試験データに変換する試験データ変換部4dとを設ける構成とする。
請求項（抜粋）：
複数の試験環境および条件下で共通な試験手順と、各試験環境および条件下で異なる試験データとを記述した各試験シナリオを用いて、複数の試験環境および条件下でのソフトウェア自動試験を行うシステムにおいて、上記試験環境および条件下で異なる各試験データを、各試験環境および条件で共通な変数名で記述した共通試験シナリオと、上記試験環境および条件下で異なる各試験データと上記共通な変数名との対応付けを、上記試験環境および条件別に示す試験データリストと、上記共通試験シナリオに記述された上記変数名を、上記試験データリストを参照して、上記試験環境および条件に対応する試験データに変換する試験データ変換手段とを設けることを特徴とするソフトウェア自動試験システム。
引用特許：
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