特許

J-GLOBAL ID：200903025250730010

PDP放電特性解析装置およびPDP放電特性解析プログラム

発明者： 平野 芳邦 ,  石井 啓二 ,  本山 靖 ,  村上 由紀夫
出願人/特許権者： 日本放送協会
代理人 (3件)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫 ,  古川 友美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-188306
公開番号（公開出願番号）：特開2007-011475
出願日： 2005年06月28日
公開日（公表日）： 2007年01月18日
要約：

【課題】 粒子の特性解析に十分な精度を確保しつつ、計算回数を削減して計算時間を短縮することができる、或いは、計算時間を長くすることなく、一回の評価をするのにかかる計算負荷を軽減することができる。【解決手段】 PDP放電特性解析装置1は、AC型PDPの放電現象を対象にした特性解析を、予め設定した計算条件下で、前記放電現象における放電素の過程モデルに関する入力データに基づいて行うものであって、荷電粒子の粒子密度の算出について、フルモード計算手段5と、ハーフモード計算手段7と、スキップモード計算手段9と、これらを入力データの変化に基づいて切り替える切替手段3と、を備えている。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

AC型PDPの放電現象を対象にした特性解析を、予め設定した計算条件下で、前記放電現象における放電素の過程モデルに関する入力データに基づいて行うPDP放電特性解析装置であって、 前記特性解析を、前記AC型PDPの放電による流体シミュレーションによって行う場合に、前記AC型PDPによって放電される放電プラズマを構成している荷電粒子の粒子密度を繰り返し算出する際に、前記荷電粒子を構成する電子とイオンと励起粒子との粒子密度および電界強度を計算するフルモード計算手段と、 前記荷電粒子を構成するイオンと励起粒子との粒子密度および電界強度を計算するハーフモード計算手段と、 前記荷電粒子を構成する励起粒子のみの粒子密度を計算するスキップモード計算手段と、 前記フルモード計算手段、前記ハーフモード計算手段および前記スキップモード計算手段による計算の切替を、前記入力データの変化に伴って行う切替手段と、 を備えることを特徴とするPDP放電特性解析装置。

IPC (2件)：

G06F 17/50 ,  G06F 19/00

FI (3件)：

G06F17/50 612H ,  G06F17/50 612L ,  G06F19/00 110

Fターム (20件)：

5B046AA07 ,  5B046JA09 ,  5C012AA05 ,  5C012BE01 ,  5C012BE04 ,  5C040FA01 ,  5C040FA04 ,  5C040GB03 ,  5C040GB14 ,  5C040GC01 ,  5C040GC20 ,  5C040GD01 ,  5C040GF02 ,  5C040GG03 ,  5C040GJ02 ,  5C040GJ08 ,  5C040LA10 ,  5C040LA14 ,  5C040MA16 ,  5C040MA30