特許

J-GLOBAL ID：200903025255091482

ICテストシステム

発明者： 坪下 浩文
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-308959
公開番号（公開出願番号）：特開平9-145788
出願日： 1995年11月28日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：

【要約】【課題】 多様なピン仕様のデバイスに対しフレキシブルであり、将来の拡張性、メンテナンス性が高いICテストシステムを提供することにある。【解決手段】 測定ボード(PB)12に搭載された被測定デバイス11の各ピンに対応する各種のテストモジュールがICテスター14に納められ、被測定デバイス11の各ピンに所望の試験モジュールを切り換える信号分配器13が測定ボード12及びICテスター14に対し分離可能になっている。

請求項（抜粋）：

測定ボードに搭載された被測定デバイスの各ピンに対応する各種の試験モジュールがICテスター内に配され、前記被測定デバイスの各ピンに所望の試験モジュールを切り換えるための信号分配器が前記測定ボード及び前記ICテスターに対して分離可能になっていることを特徴とするICテストシステム。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26

FI (2件)：

G01R 31/28 H ,  G01R 31/26 G