特許

J-GLOBAL ID：200903025281348599

画像検査方法及び画像検査装置

発明者： 松島 健一
出願人/特許権者： セイコーインスツルメンツ株式会社
代理人 (1件)： 坂上 正明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-177091
公開番号（公開出願番号）：特開2004-020428
出願日： 2002年06月18日
公開日（公表日）： 2004年01月22日
要約：

【課題】検査対象物を撮像して画像データを処理することにより良否判定をする場合に、検査対象物の不均一性の細かさと同程度以下の細線状の異物やキズや汚れ等の異常を検出し、検査対象物の良否を正確に判定する画像検査方法及び画像検査装置を提供する。【解決手段】本発明による画像検査方法は、検査対象物を検査するために撮像する画像入力ステップと、画像を回転する回転ステップと、回転した画像を各小領域の行毎あるいは列毎に加算する加算ステップと、異常な水平線分あるいは垂直線分を検出する検出ステップと、回転の元座標に戻す逆回転ステップと、線分を粒子に連結する連結ステップと、粒子の属性から検査対象物の良否を判定する判定ステップを備えている。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検査対象物の画像データを得る画像入力ステップと、前記画像データを回転させる回転ステップと、前記回転ステップで回転した画像を各小領域について行毎あるいは列毎に加算する加算ステップと、前記加算ステップの加算結果から線分を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出した線分を前記回転ステップでの回転の元空間に戻す逆回転ステップと、前記元空間で線分を粒子として連結する連結ステップと、前記連結ステップで連結した粒子の属性により検査対象物の良否を判定する判定ステップと、を有することを特徴とする画像検査方法。

IPC (4件)：

G01N21/88 ,  G01B11/30 ,  G06T1/00 ,  G06T3/60

FI (4件)：

G01N21/88 J ,  G01B11/30 A ,  G06T1/00 300 ,  G06T3/60

Fターム (30件)：

2F065AA49 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM22 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR08 ,  2F065SS04 ,  2G051AA00 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA20 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED07 ,  2G051ED12 ,  5B057AA01 ,  5B057CD03 ,  5B057CH01 ,  5B057DA03