特許
J-GLOBAL ID：200903025288605171
光パルス波形測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-168163
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356555
出願日： 1999年06月15日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：
【要約】【課題】 従来の光波形測定装置では光パルスの時間軸を一義的に決定できず、また発生した光を分光するための分光器が必要であり、装置全体の規模が大きくなる。【解決手段】 被測定光パルスを分岐して一方の光パルスを遅延させた後に重ねて相関信号を測る装置において、被測定パルス光を入射する前にパルス光の波長を分散させる構成にすることで、波形変形量、遅延時間に対する相関データを取得し、被測定光パルスの波形を再構築する。
請求項（抜粋）：
被測定光パルスの波形を相関法により測定する光パルス波形測定装置において、前記被測定光パルスの波形を変形させる波形変形手段と、前記波形変形手段における波形変形量を制御する波形変形量制御手段と、前記波形変形手段により波形変形された前記被測定光パルスを第1光パルスと第2光パルスに分岐する分岐手段と、前記第1光パルスを前記第2光パルスに対して遅延させる遅延手段と、前記遅延手段における第1光パルスの遅延時間を制御する遅延時間制御手段と、前記第1光パルスと前記第2光パルスとを所定の重ね合わせ領域で重ねる重ね手段と、前記重ね合わせ領域において重ねられた前記第1光パルスと前記第2光パルスを非線形相互作用によって第3光パルスに変換する光変換手段と、前記波形変形量及び前記遅延時間に対する前記第3光パルスの光強度を検出する光強度検出手段と、前記波形変形量及び前記遅延時間を変化させて検出された前記光強度から相関データを取得する相関データ取得手段と、前記相関データに基づいて前記被測定光パルスの波形を再構築する波形再構築手段と、を備えることを特徴とする光パルス波形測定装置。
Fターム (16件)：
2G065AA12
, 2G065AB02
, 2G065AB09
, 2G065AB14
, 2G065AB26
, 2G065BA02
, 2G065BA07
, 2G065BA09
, 2G065BA18
, 2G065BB14
, 2G065BB26
, 2G065BB27
, 2G065BB28
, 2G065BB38
, 2G065BB39
, 2G065BC35
