特許

J-GLOBAL ID：200903025308407053

自動分析装置および精度管理試料の測定方法

発明者： 篠原 弘生
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-024196
公開番号（公開出願番号）：特開平6-242118
出願日： 1993年02月12日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：

【要約】【目的】精度管理試料を効率的に測定することによって、コントロール試料や試薬の浪費を回避し検体の全体測定時間を短縮することができる自動分析装置および精度管理試料の測定方法を提供する。【構成】本発明の自動分析装置は、患者の検体等を測定可能な測定部1と、測定条件を入力可能な入力部2と、各部を制御可能な制御部3と、入力部2で入力された上述の精度管理試料の測定条件を精度管理試料ごとに記憶可能な記憶部5と、精度管理試料の種類が同一の2つの精度管理試料の測定項目を記憶部5から読み出すとともに、読み出された測定項目が全て含まれるようにかつ同一の測定項目が重複しないように新たな測定項目を作成可能な論理計算部6とを備え、測定部1は、新たな測定項目について2つの精度管理試料のうちの1つを測定するようになっている。

請求項（抜粋）：

濃度が既知の精度管理試料および検体を測定可能な測定部と、前記精度管理試料の測定条件を前記精度管理試料ごとに記憶可能な記憶部と、試料の種類が同一であってかつ連続にあるいは所定の間隔以下で測定される少なくとも2以上の精度管理試料の測定項目を前記記憶部から読み出すとともに、読み出された測定項目が全て含まれるようにかつ同一の測定項目が重複しないように新たな測定項目を作成可能な論理計算部とを備え、前記測定部は、前記新たな測定項目について前記少なくとも2以上の精度管理試料のうちの1つを測定するようになっていることを特徴とする自動分析装置。