特許
J-GLOBAL ID：200903025318057786
非破壊検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
塩川 修治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-194600
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043369
出願日： 1994年07月28日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：
【要約】【目的】 簡素な構成により、探傷用センサの探傷感度を安定に保ち、かつ被検査材にすり疵や引っ掻き疵を発生させない非破壊検査装置を提供すること。【構成】 探傷用センサ13を支持した探傷台12を被検査材1に対して相対移動し、被検査材1の欠陥を検出する非破壊検査装置10において、探傷台12は、被検査材1に転接して探傷用センサ13が被検査材1に対してなす距離を一定に保つ回転球15を備えてなるもの。
請求項（抜粋）：
探傷用センサを支持した探傷台を被検査材に対して相対移動し、被検査材の欠陥を検出する非破壊検査装置において、探傷台は、被検査材に転接して探傷用センサが被検査材に対してなす距離を一定に保つ回転球を備えてなることを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (3件)：
G01N 29/26 501
, G01N 27/83
, G01N 29/04 501
