特許
J-GLOBAL ID:200903025327222609

端部検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 奈良 繁
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-212914
公開番号(公開出願番号):特開平5-034111
出願日: 1991年07月30日
公開日(公表日): 1993年02月09日
要約:
【要約】【目的】 発光部の輝度変化を少なくし、外乱光の影響を受けにくくする。【構成】 投光部1と受光部2の間に被測定物3を挿入してこの端部位置を測定するに際し、投光部1に直列に結合した発光ダイオードを配置し、この発光ダイオードと直列に接続された光度検知用発光ダイオードを光電変換素子と対向して配置し、光度制御部でこの光電変換素子の電流が所定値となるよう発光ダイオードの電流を制御する。また発光ダイオードを間歇的に発光させる。また受光面に近赤外付近の波長のみを通す可視光カットフィルタを設ける。
請求項(抜粋):
投光部と受光部の間に被測定物を挿入し、被測定物による遮光量からこの被測定物の端部を検出する端部検出装置において、投光部の光度を制御する光度制御部を設け、前記投光部を直列に結合した発光ダイオードで構成し、この発光ダイオードと直列に接続された光度検知用発光ダイオードを光電変換素子と対向して配置し、この光電変換素子の電流が所定値となるよう前記発光ダイオードの電流を制御することを特徴とする端部検出装置。
IPC (2件):
G01B 11/00 ,  G01D 5/34
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平3-017508
  • 特開昭61-148305

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