特許

J-GLOBAL ID：200903025334017026

アナログ/デジタル変換器テスト方法、及びその回路

発明者： 千田 浩之 ,  熊澤 町也
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 早瀬 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-310123
公開番号（公開出願番号）：特開2004-147115
出願日： 2002年10月24日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：

【課題】アナログ/デジタル変換器のDC成分に起因する不具合を検出することができるアナログ/デジタル変換器テスト回路を提供する。【解決手段】信号発生器1にて発生した矩形波信号s1をADC3へ入力してA/D変換後、A/D変換信号s2をDCC5へ入力し、DCC5において、A/D変換信号s2からDC成分4を検出し、該DC成分4を試験装置8へ入力して、試験装置8にてDC成分4と、期待値とが一致するかどうか検査し、一致する場合は合格(PASS)とし、一致しない場合は不合格(FAIL)とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

入力信号をアナログ/デジタル変換し、アナログ/デジタル変換信号を出力するアナログ/デジタル変換ステップと、 上記アナログ/デジタル変換信号からそのDC成分を検出するDC成分検出ステップと、 上記検出したDC成分を検査する検査ステップと、を有する、 ことを特徴とするアナログ/デジタル変換器テスト方法。

IPC (1件)：

H03M1/10

FI (1件)：

H03M1/10 C

Fターム (4件)：

5J022AA01 ,  5J022AC04 ,  5J022BA03 ,  5J022BA04

引用特許：

審査官引用 (3件)

• A/D変換回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-314025   出願人：日本電気株式会社
• 特開昭60-197016
  
• 端面反射縦結合型SAW共振子フィルタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-037165   出願人：株式会社村田製作所