特許
J-GLOBAL ID:200903025382786155

電磁弁の故障診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 千明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-132766
公開番号(公開出願番号):特開平10-311455
出願日: 1997年05月07日
公開日(公表日): 1998年11月24日
要約:
【要約】【課題】 プランジャの動作が遅い電磁弁においても、高い精度で診断を行うことができる電磁弁の故障診断装置を提供する。【解決手段】 電磁弁に、駆動用の作動電圧とは異なる矩形状の診断電圧Vを供給し、電流波形の検出時間内で電流変化速度を演算する。演算した電流変化速度DViが2回以上設定速度DVithを越えたら、電流波形に凹み部分Xがあると判断する。これを2回繰り返し、2回とも凹み部分Xがあると判断したとき、電磁弁が正常であると診断する。また、電流波形の検出時間と設定速度DVithとを、油温等の使用環境に応じて設定することにより、故障診断の精度を上げ、かつ診断に要する時間を短くする。
請求項(抜粋):
プランジャを有する電磁弁に、その駆動用の作動電圧とは異なる矩形状の診断電圧を供給する電圧供給手段と、該電圧供給手段による前記電磁弁への診断電圧の供給に伴い供給電流の波形を検出する波形検出手段と、該波形検出手段により検出された供給電流の波形に凹み部分を検出する凹み検出手段と、該凹み検出手段により凹み部分が検出されたとき、前記電磁弁が正常であると診断する判断動作を行う診断手段とを備えたことを特徴とする電磁弁の故障診断装置。
IPC (2件):
F16K 31/06 320 ,  F16K 37/00
FI (2件):
F16K 31/06 320 A ,  F16K 37/00 F
引用特許:
審査官引用 (10件)
  • ソレノイドバルブの故障診断装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-117876   出願人:本田技研工業株式会社
  • 特開平1-105084
  • 特開平4-211777
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