特許
J-GLOBAL ID:200903025407835148
電子写真感光体、プロセスカートリッジ及び電子写真装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山下 穣平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-117333
公開番号(公開出願番号):特開2003-316035
出願日: 2002年04月19日
公開日(公表日): 2003年11月06日
要約:
【要約】【課題】ゴーストが発生しない高品位の画像出力ができる電子写真感光体、プロセスカートリッジ及び電子写真装置の提供。【解決手段】導電性支持体上に、少なくとも電荷発生層、電荷輸送層及び導電性粒子及び硬化性樹脂を含有する表面保護層をこの順で有する電子写真感光体において、該電荷輸送層中に少なくとも2種類の電荷輸送材料を含有し、該電荷輸送材料のうち最も低い酸化電位及び最も高い酸化電位の差|ΔEox|[V]が式(1)を満足し、かつ該電子写真感光体表面のXPS(X線光電子分光)による分析値で表面保護層に含まれるインジウムとスズの割合の和Ac[atomic%]と表面保護層に含まれるフッ素と珪素の割合の和A<SB>L</SB>[atomic%]が式(2)及び(3)を満足することを特徴とする電子写真感光体、プロセスカートリッジ及び電子写真装置。0.02<|ΔEox|<0.13 (1)1.5<Ac<12.0 (2)5.0<A<SB>L</SB><25.0 (3)
請求項(抜粋):
導電性支持体上に、少なくとも電荷発生層、電荷輸送層及び、導電性粒子を含有し硬化性樹脂を用いて形成される表面保護層をこの順で有する電子写真感光体において、該電荷輸送層中に少なくとも2種類の電荷輸送材料を含有し、該電荷輸送材料のうち最も低い酸化電位及び最も高い酸化電位の差:|ΔEox|[V]が一般式(1)を満足し、かつ該電子写真感光体表面のXPS(X線光電子分光)による分析値で前記表面保護層に含まれるインジウムとスズの割合の和:Ac[atomic %]と前記表面保護層に含まれるフッ素と珪素の割合の和:A<SB>L</SB>[atomic %]が一般式(2)及び(3) 0.02 < |ΔEox| < 0.13 (1) 1.5 < Ac <12.0 (2) 5.0 < A<SB>L</SB> < 25.0 (3)を満足することを特徴とする電子写真感光体。
IPC (5件):
G03G 5/047
, G03G 5/06 311
, G03G 5/147 503
, G03G 5/147 504
, G03G 15/02 101
FI (5件):
G03G 5/047
, G03G 5/06 311
, G03G 5/147 503
, G03G 5/147 504
, G03G 15/02 101
Fターム (29件):
2H068AA04
, 2H068AA20
, 2H068AA37
, 2H068BA12
, 2H068BA13
, 2H068BA14
, 2H068BA58
, 2H068BB31
, 2H068CA37
, 2H200GA23
, 2H200GA44
, 2H200HA02
, 2H200HA21
, 2H200HA28
, 2H200HB12
, 2H200HB17
, 2H200HB22
, 2H200HB46
, 2H200HB47
, 2H200HB48
, 2H200LA01
, 2H200LA38
, 2H200MB01
, 2H200MB06
, 2H200MC01
, 2H200MC06
, 2H200MC15
, 2H200NA02
, 2H200NA06
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