特許
J-GLOBAL ID:200903025464221504

ピンホール検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 村上 友一 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-375544
公開番号(公開出願番号):特開2002-333433
出願日: 2001年05月09日
公開日(公表日): 2002年11月22日
要約:
【要約】【課題】 ピンホールの検出漏れがないピンホール検査装置の提供を目的とする。【解決手段】 ピンホール検査領域8aを通過する周回手段35を設け、周回手段35の周回方向と交差する方向に配列された複数のローラ30により被検査物1の搭載部を形成し、ピンホール検査領域8aにおいて被検査物1を対称軸回りに回転させるローラ回転手段40を設け、ピンホール検査領域8aに高電圧印加電極10と放電検知電極(20)とを設置し、高電圧印加電極10は被検査物1の端部に接触する電極ブラシとし、放電検知電極(20)は被検査物1の中央部に接触する電極ブラシとして、連続供給される被検査物1の全周ピンホール検査を可能とした構成とした。
請求項(抜粋):
概略軸対称形状の製品を被検査物とするピンホール検査装置であって、ピンホール検査領域を通過する周回手段を設け、前記周回手段の周回方向と交差する方向に配列された複数のローラにより前記被検査物の搭載部を形成して、前記被検査物を前記周回方向と交差する方向に配列して前記ピンホール検査領域に搬送可能とし、前記ピンホール検査領域において前記被検査物を搭載しているローラを強制回転させることにより前記被検査物を前記対称軸回りに回転させる回転手段を設け、前記ピンホール検査領域に高電圧印加電極と放電検知電極とを設置し、前記高電圧印加電極は前記被検査物の端部に接触する電極ブラシとし、前記放電検知電極は前記被検査物の中央部に接触する電極ブラシとして、前記被検査物の全周検査を可能とした、ことを特徴とするピンホール検査装置。
IPC (2件):
G01N 27/92 ,  G01M 3/40
FI (2件):
G01N 27/92 A ,  G01M 3/40 A
Fターム (4件):
2G067AA44 ,  2G067BB30 ,  2G067BB35 ,  2G067DD27
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特公昭50-006998

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