特許
J-GLOBAL ID:200903025480666842

蛍光寿命画像顕微法および分光法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-523995
公開番号(公開出願番号):特表2007-502988
出願日: 2004年08月19日
公開日(公表日): 2007年02月15日
要約:
蛍光発光分光法データおよび蛍光寿命画像顕微法データの分析のための方法およびシステムを記載する。正確な分解へと収束する任意の形式の蛍光強度減衰のための一意的なラゲール展開を、従来の方法よりも高速に求めることができる。ラゲール展開手法は、固有の蛍光寿命と大いに相関する展開係数を含むので、蛍光動力学を直接特徴付けることが可能になる。複雑系については、離散的指数成分に関して蛍光強度減衰の従来の分析は、内在する蛍光動力学の正しい表示を容易には提供することができない。ラゲール展開手法を活用して、多様な系からの時間分解蛍光データの分析のための代替のノンパラメトリック法を記載し、それは、試料の特徴付けおよび識別を促進する。蛍光寿命画像化の分析のための超高速な方法も記載し、試料の組成変化および機能変化のリアルタイムでの分析が、光顕レベルまたは巨視レベルで促進される。
請求項(抜粋):
試料を特徴付ける方法であって、 ラゲール係数(「{cj}」)を含む展開に基づいて該試料の蛍光インパルス応答(「h(n)」)を推定することであって、該展開は次式
IPC (7件):
G01N 21/64 ,  G01N 37/00 ,  G01N 33/53 ,  C12N 15/09 ,  C12M 1/00 ,  C12Q 1/02 ,  C12Q 1/68
FI (8件):
G01N21/64 B ,  G01N37/00 103 ,  G01N33/53 M ,  G01N37/00 102 ,  C12N15/00 F ,  C12M1/00 A ,  C12Q1/02 ,  C12Q1/68 A
Fターム (37件):
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA06 ,  2G043GA08 ,  2G043GB21 ,  2G043KA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2G043NA13 ,  4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA11 ,  4B024HA12 ,  4B029AA07 ,  4B029CC03 ,  4B029FA01 ,  4B029FA15 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ05 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QR08 ,  4B063QR42 ,  4B063QR55 ,  4B063QR62 ,  4B063QR74 ,  4B063QS34 ,  4B063QS36 ,  4B063QX02
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 米国特許第6,272,376号明細書
審査官引用 (1件)
  • 特許第6272376号
引用文献:
審査官引用 (2件)

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