非破壊検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：越場隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-182883
公開番号（公開出願番号）：特開平7-077516
出願日： 1994年07月12日
公開日（公表日）： 1995年03月20日
要約：

【要約】【構成】磁気的に安定した検査領域を画成する磁気遮蔽容器4と、磁気遮蔽容器4により画成された検査領域内の磁界変動を検出するSQUIDを用いた磁気センサ3とを備え、この検査領域内を移動する被検査物1に含まれる異物または欠陥を、被検査物1を破壊することなく検出できる。

請求項（抜粋）：

磁気的に安定した検査領域を画成する磁気遮蔽容器と、該磁気遮蔽容器により画成された検査領域内の磁界変動をSQUIDを用いて検出する磁気センサとを備え、該検査領域内で移動する被検査物により生じる磁界の変動を検出して、該被検査物に含まれる異物または欠陥を検出するように構成されていることを特徴とする非破壊検査装置。

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平2-006760
特開平3-037563
特開平1-245149

全件表示

前のページに戻る