特許
J-GLOBAL ID：200903025492125472
基板検査方法およびその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-355783
公開番号（公開出願番号）：特開平6-186169
出願日： 1992年12月17日
公開日（公表日）： 1994年07月08日
要約：
【要約】【目的】 特定の基板についての検査用データを流用して検査対象である基板の検査を行うことにより、教示に要する労力と時間とを大幅に削減する。【構成】 特定の基板に実装された複数個の部品のうち、任意の部品群Zが間引かれた実装状態の基板24Bを検査対象として各実装部品30の実装品質を検査する場合において、検査対象である基板24Bの各実装部品30の検査を、前記特定の基板を検査するのに必要な検査用データファイル26の一部の検査用データを流用して行うようにする。このような検査を実施するに際し、識別データファイル27bを参照し、基板24Bの各実装部品30についての検査用データを他の検査用データと識別して検査用データファイル26より読み出す。
請求項（抜粋）：
特定のプリント基板に実装された複数個の部品のうち任意の部品が間引かれた実装状態のプリント基板を検査対象として各実装部品の実装品質を検査するための基板検査方法であって、検査対象である前記プリント基板の各実装部品の検査を、前記特定のプリント基板を検査するのに必要な部品毎の検査用データの一部を流用して行うことを特徴とする基板検査方法。
IPC (4件)：
G01N 21/88
, G01B 11/24
, H05K 3/34
, H05K 13/08
