特許
J-GLOBAL ID:200903025520921875

光反射試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井出 直孝 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-303093
公開番号(公開出願番号):特開平7-162366
出願日: 1993年12月02日
公開日(公表日): 1995年06月23日
要約:
【要約】【目的】 光通信網の光中継器を含む被測定伝送路において、高い信号対雑音比を維持しながら散乱光の反射試験を行う。【構成】 光中継器の過渡応答時間よりも短い光パルス信号を用いて反射試験を行う。光パルス信号間には通常の光通信信号とほぼ等しいレベルの連続光信号を背景として送出する。【効果】 高い信号対雑音比を維持しながら測定できるので、測定精度が向上し測定範囲が拡大する。また、光パルス信号が送信されてからの経過時間に対応して受信レベルを表示することにより障害点を特定することができる。
請求項(抜粋):
光ファイバ増幅器が挿入された光伝送路に光パルス信号を送信する光送信部と、この光伝送路で発生する反射光を受信する光受信部とを備え、前記光パルス信号は光ファイバ増幅器の過渡応答時間より短いことを特徴とする光反射試験装置。
IPC (2件):
H04B 10/08 ,  G01M 11/00
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 光増幅装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-158801   出願人:古河電気工業株式会社

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