特許

J-GLOBAL ID：200903025523880720

光学式測距装置

発明者： 柴田 治郎 ,  伊藤 正彦 ,  伊藤 勝良
出願人/特許権者： 株式会社日本技研
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-030429
公開番号（公開出願番号）：特開平11-030515
出願日： 1998年01月27日
公開日（公表日）： 1999年02月02日
要約：

【要約】【目的】 光照射箇所の反射光量が少なくフォトセンサの受光量が微量の場合、外部からの光雑音などが大きい場合、光照射箇所の表面状態が不均一の場合、光照射箇所が高速に変位している場合などでも高精度に距離を計測できる光学式測距装置を提供することを目的とする。【構成】 光量が一定周期で変化する変調光を集光させて照射する光照射手段と、光照射箇所の像を複数個のフォトセンサに渡って映し、且つ、このフォトセンサが受光した前記変調光を選択的に受信できる光電変換手段と、前記フォトセンサの出力値から出力分布曲線を描き、この曲線の所定の値から距離を計測する計測手段を備える。

請求項（抜粋）：

三角測量を応用して基準箇所と光照射箇所との距離を計測する測距装置において、光量が一定周期で変化する変調光を集光させて照射する光照射手段と、光照射箇所の像を複数個のフォトセンサに渡って映し、且つ、このフォトセンサが受光した前記変調光を選択的に受信できる光電変換手段と、前記フォトセンサの出力値から出力分布曲線を描き、この曲線の所定の値から距離を計測する計測手段を備えていることを特徴とする光学式測距装置。

IPC (3件)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26

FI (3件)：

G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 B ,  G01B 11/26 Z