特許

J-GLOBAL ID：200903025536236072

非接触式隙間測定装置

発明者： ゲーリー・ダブリュー・オーシャウス ,  ゼームス・イー・カウサーン・ジュニア ,  ランドール・ケー・ホプキンス
出願人/特許権者： アンドリッツ・スプラウト-バウアー・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 木村 正巳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-122067
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083606
出願日： 1994年05月12日
公開日（公表日）： 1995年03月28日
要約：

【要約】【目的】 精砕機の厳しい環境にあっても摩耗しない隙間測定装置を提供すること。【構成】 プローブ手段10は隙間幅データを測定する検知プローブ12を包含し、該プローブは平らな正面部分16と、円錐形の後面部分18と、それらの間に延びる長手方向軸線20を有する円筒形のチップ14を包含する。隙間幅データを伝送するケーブル22がプローブ12の後面部分18に電気的に接続される。保護スリーブ24がチップ14のまわりに配置されるが、正面部分16はスリーブ24から露出する。シール材料26がチップ14の後面部分18とケーブル22の一部分のまわりに配置される。閉止正面部30と、開口後面部32を有するるつぼ形状のセラミック(好適にはジルコニウムセラミック)ハウジング28がスリーブ24とシール材料26とを囲繞し、チップ14の正面部分16が該正面部30に当接し、またケーブル22が該後面部32から突出する。

請求項（抜粋）：

特定の隙間を表す信号を発信するプローブ手段(10)を有する型式の非接触式隙間測定装置において、前記プローブ手段が非金属及び非磁性体のセラミック製の耐摩耗性を有するハウジング(28)を有することを特徴とする非接触式隙間測定装置。

IPC (3件)：

G01B 7/14 ,  D21B 1/14 ,  D21D 1/30