特許
J-GLOBAL ID：200903025557749991
電気系解析方法、記録媒体および電気系解析システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
来栖 和則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-378645
公開番号（公開出願番号）：特開2002-186271
出願日： 2000年12月13日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
要約：
【要約】【課題】 モータと制御系とを含む電気系の性能を解析モデルを用いて解析する方法において、電気系全体の性能の解析および評価を短時間で終了可能とする。【解決手段】 解析モデルとしてのFEMモデルのもとにモータの磁束鎖交数を、それの回転角と電流とがそれぞれ適当な刻みで離散化された離散回転角と離散電流値とに関して解析する。離散回転角の離散化は、磁束鎖交数の回転角に関する微分値の絶対値が大きい場合において小さい場合におけるより細かい刻みで行い、それに準じて、複数の離散電流値の離散化は、磁束鎖交数の電流に関する微分値の絶対値が大きい場合において小さい場合におけるより細かい刻みで行うる。したがって、この方法によれば、磁束鎖交数を計算するためにFEMモデルに依存しなければならない程度が従来より軽減され、その結果、電気系の解析、評価および設計に必要な時間を容易に短縮し得る。
請求項（抜粋）：
コイルとロータとを有して作動させられる回転機とその回転機を制御する制御系とを含む電気系をコンピュータにより解析する方法であって、前記回転機の磁場解析を行うための解析モデルを前記コンピュータ上で用いることにより、前記回転機の磁気的物理量を、前記ロータの回転角に関する複数の離散値である離散回転角の各々と、前記コイルの電流に関する複数の離散値である離散電流値の各々とに関して計算し、それにより、前記磁気的物理量に関して複数の計算値を離散回転角ごとに取得するとともに離散電流値ごとに取得する第1ステップであって、前記複数の離散回転角は、前記磁気的物理量の前記回転角に関する微分値である第1微分値の絶対値が大きい場合において小さい場合におけるより細かい刻みで前記回転角が離散化されて取得され、前記複数の離散電流値は、前記磁気的物理量の前記電流に関する微分値である第2微分値の絶対値が大きい場合において小さい場合におけるより細かい刻みで前記電流が離散化されて取得されたものと、その第1ステップにおいて取得された複数の計算値と、前記回転機を電気回路として記述する回転機記述方程式であってその回転機の特性の非線形性を表現可能なものと、前記制御系を電気回路として記述する制御系記述方程式とに基づき、前記電気系を前記コンピュータにより解析する第2ステップとを含む電気系解析方法。
Fターム (2件)：
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