特許
J-GLOBAL ID:200903025580647772

圧電体薄膜素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-092122
公開番号(公開出願番号):特開2003-289162
出願日: 2002年03月28日
公開日(公表日): 2003年10月10日
要約:
【要約】【課題】 圧電体薄膜素子において、圧電体薄膜と下部電極との良好な構造安定性・化学的安定性を得て、これにより圧電体薄膜の品質を向上させ、素子として高い信頼性を得ること。【解決手段】 基板11と、下部電極15と、AlN薄膜18と、上部電極19とからなる圧電体薄膜素子において、下部電極15が高融点金属窒化物から構成される。好ましくは、下部電極を構成する高融点金属窒化物の生成エンタルピーが、圧電体薄膜の生成エンタルピーと同じ又は高い構成とする。
請求項(抜粋):
基板と、前記基板上に形成された高融点金属窒化物を含む下部電極と、前記下部電極上に形成された圧電体薄膜と、前記圧電体薄膜上に形成され上部電極を有する圧電体薄膜素子。
IPC (4件):
H01L 41/09 ,  H01L 41/08 ,  H01L 41/18 ,  H03H 9/17
FI (4件):
H03H 9/17 F ,  H01L 41/08 L ,  H01L 41/08 D ,  H01L 41/18 101 Z
Fターム (12件):
5J108AA07 ,  5J108BB08 ,  5J108CC04 ,  5J108CC11 ,  5J108DD01 ,  5J108EE03 ,  5J108EE04 ,  5J108EE07 ,  5J108FF05 ,  5J108FF11 ,  5J108KK01 ,  5J108KK02

前のページに戻る