特許
J-GLOBAL ID:200903025611109235

三次元形状測定方法とその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石黒 健二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-215687
公開番号(公開出願番号):特開平8-075428
出願日: 1994年09月09日
公開日(公表日): 1996年03月22日
要約:
【要約】【目的】 簡素な構成により作業者に対して安全な三次元形状測定装置を提供する。【構成】 定盤1上にXYテーブル2を配置して、その可動部にレーザ変位計5をレーザ光が上方へ照射されるように設け、さらにその上方に計測ワーク8を治具7で保持する。XYテーブル2を駆動しながら可動部の各座標毎の計測ワーク8までの距離データを得る。距離データからデータ処理によってXY平面方向のXY稜線と、XZ平面方向のXZ稜線を得て、さらに、XYZ輪郭線を算出する。レーザ光の照射方向が、下方から上方へ向かう一方向からだけであるため、レーザ光の乱反射がなく、装置の周辺に特別な処理を施さなくても作業者を保護できる。従って,簡素な装置とすることができる。
請求項(抜粋):
ワークにレーザ光を照射し、該レーザ光の反射光に基づいて前記ワークの三次元形状を測定する三次元形状測定方法において、略水平面上に載置されたXYテーブルの可動部に前記レーザ光を上方を指向して照射するレーザ変位計を設けるとともに、ワーク保持手段によって前記XYテーブルの上方で前記ワークを保持し、前記XYテーブルの各座標において前記レーザ変位計により測定された前記ワークまでの距離データを前記各座標とともに記憶し、その距離データに基づいてワークの輪郭形状を算出することを特徴とする三次元形状測定方法。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  G01B 11/00
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平4-076410

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