特許

J-GLOBAL ID：200903025644868700

分布型物理量計測方法及び計測装置

発明者： 大畠 裕
出願人/特許権者： 日立電線株式会社
代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-110225
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310729
出願日： 2001年04月09日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：

【要約】【課題】 2次元、3次元の分布センシングが可能で、事故時の復旧が容易で、信頼性が高く、構成が簡素な分布型物理量計測方法及び計測装置を提供する。【解決手段】 広帯域波長の光を発する励起光源401と、光の波長毎にセンシングゾーンを割り当てる光ファイバとを用いた分布型物理量計測方法において、前記センシングゾーンにFBGを施したセンシング光ファイバ421を用い、このセンシング光ファイバの一端を開放して反射型とし、反対端をアドアンドドロップ機能を有するアドアンドドロップフィルタ411に接続し、各センシングゾーンの数に相当する数のアドアンドドロップフィルタを幹線用光ファイバ400で多段に接続し、初段の幹線用光ファイバに波長無依存スプリッタ402を接続し、前記励起光源401からの広帯域波長励起光を初段及びその後段の幹線用光ファイバに導き、各センシング光ファイバで反射されて初段の幹線用光ファイバから戻ってくる信号光を波長分離フィルタ404に導くようにした。

請求項（抜粋）：

広帯域波長の光を発する励起光源と、光の波長毎にセンシングゾーンを割り当てる光ファイバとを用いた分布型物理量計測方法において、前記センシングゾーンに光ファイバブラッググレーティング(以下、FBGと言う)を施した光ファイバ(以下、センシング光ファイバという)を用い、このセンシング光ファイバの一端を開放して反射型とし、反対端をアドアンドドロップ機能を有する波長選択フィルタ(以下、アドアンドドロップフィルタという)に接続し、各センシングゾーンの数に相当する数のアドアンドドロップフィルタを幹線用光ファイバで多段に接続し、初段の幹線用光ファイバに波長無依存スプリッタを接続し、前記励起光源からの広帯域波長励起光を初段及びその後段の幹線用光ファイバに導き、各センシング光ファイバで反射されて初段の幹線用光ファイバから戻ってくる信号光を波長分離フィルタに導くようにしたことを特徴とする分布型物理量計測方法。

IPC (6件)：

G01D 5/26 ,  G01D 3/028 ,  G01J 3/18 ,  G01K 11/12 ,  G02B 6/00 ,  G01V 1/00

FI (6件)：

G01D 5/26 D ,  G01J 3/18 ,  G01K 11/12 F ,  G02B 6/00 B ,  G01V 1/00 E ,  G01D 3/04 Z

Fターム (24件)：

2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F075AA10 ,  2F103BA10 ,  2F103BA41 ,  2F103BA43 ,  2F103BA49 ,  2F103CA07 ,  2F103EB05 ,  2F103EB11 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2F103ED01 ,  2F103ED37 ,  2G020AA03 ,  2G020BA20 ,  2G020CA03 ,  2G020CB42 ,  2G020CC02 ,  2G020CD03 ,  2G020CD12 ,  2G020CD22 ,  2H038AA07 ,  2H038CA31