画像処理方法及び物体表面の欠陥検出方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：石田長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-185486
公開番号（公開出願番号）：特開平10-009838
出願日： 1996年06月25日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：

【要約】【課題】表面に色むらや光沢のある物体において、正確な3次元形状を求めることが可能な画像処理方法及び該画像処理方法を用いて検出対象物の表面性状や異物の影響の少ない、安定した物体表面欠陥検出ができる物体表面欠陥検出方法を提供することを目的とする。【解決手段】圧延方向と略一致する方向に当該正反射成分を観測するTVカメラ1を配置し、光源2、TVカメラ1、検出対象物3の相互の位置関係を変化させて、当該正反射成分を観察する。つまり照明入射角度を変化させながら連続して明度を計測することにより、対象物の各測定点において明度が最大となる照明角度、すなわち正反射照明入射角度が求められ、当該正反射照明入射角度を検出対象物の全点において求めることにより、正反射照明入射角度の分布を表す画像が得られる。

請求項（抜粋）：

対象物を撮像するTVカメラと当該対象物を照明する光源を用いる画像処理方法において、当該対象物表面上の各位置での照明入射角度が連続して変化するように当該光源、当該対象物、当該TVカメラの位置関係を相対的に変化させながら当該TVカメラにより連続して取得した、照明入射角度の異なる複数の画像に対して、検出対象物表面全点について、同一の点における明度が最大となる時の正反射照明入射角度の分布を求める段階と、検出対象物表面全点の正反射照明入射角度の分布を示す画像を求める段階と、から成る処理を行うことを特徴とする画像処理方法。

IPC (2件)：

G01B 11/30 , G01B 11/26

FI (2件)：

G01B 11/30 G , G01B 11/26 H

引用特許：

出願人引用 (7件)

特公平5-037244
特開昭58-204353
特公昭57-021048

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審査官引用 (1件)

特公平5-037244

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