特許
J-GLOBAL ID：200903025682361563
試料分析支援装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
堀口 浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-206631
公開番号（公開出願番号）：特開2006-029877
出願日： 2004年07月14日
公開日（公表日）： 2006年02月02日
要約：
【課題】 試料分析装置を用いてプラントで採取される試料の分析を行う試料分析工程に際して必要となる情報を表示し、表示情報を援用して行われる試料分析の効率を高める。【解決手段】 試料分析支援装置101として、試料の分析場所c1、分析対象項目c2、プラントの運転状態c3からなる複数の分析条件を規定しこの分析条件毎に試料分析装置を用いて分析を行う周期c4を設定する分析周期設定部4と、設定された分析周期を格納する分析周期データベース5と、表示部1に分析条件と分析周期c4とを関連付けて表示させる表示処理部2とを設ける。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料分析装置を用いてプラントで採取される試料の分析を行う試料分析工程を支援する試料分析支援装置であって、試料の分析場所、分析対象項目、プラントの運転状態からなる複数の分析条件を規定しこの分析条件毎に試料分析装置を用いて分析を行う周期を設定する分析周期設定部と、設定された分析周期からなる分析周期データを格納する分析周期データベースと、表示部に前記分析条件と前記分析周期とを関連付けて表示させる表示処理部と、を有する、試料分析支援装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N35/00 A
, G01N35/00 E
2G058AA07
, 2G058GD05
, 2G058GD07
, 2G058GE06
