特許

J-GLOBAL ID：200903025714720315

障害分析システム

発明者： 山本 竜 ,  富田 利明 ,  糸崎 晋作 ,  葛西 清吾 ,  加藤 幸一
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-033316
公開番号（公開出願番号）：特開2003-233686
出願日： 2002年02月12日
公開日（公表日）： 2003年08月22日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】データウェアハウス技術を活用し、迅速かつ効率的にハードウェア(製品)の障害を分析できるしくみの提供。【解決手段】(1)大量情報を扱うことによるパフォーマンスの劣化を避けるため、データウェアハウス技術のひとつである多次元データベースを採用した。(2)よく用いる共通的な検索パターン(顧客別、製品別、部品別)は、あらかじめ本発明に備え、作業が中断しないような配慮を行った。(3)本発明では、ハードウェアを構成する部品ごとに予想故障率を設定し、この予想故障率をもとに設定した基準値を越えるものを共通不良部品として知らせるアラーム機能を備えた。(4)検索キーの階層化により集計・分解ができる機能詳細情報を持つDBに直接接続して詳細画面を表示する機能、画面に表示した内容を表計算ソフト形式のファイルに出力する機能などを備え、それらはボタンあるいはドロップダウンリストにより簡易に操作できるようにした。

請求項（抜粋）：

ハードウェア製品に発生した障害を管理するデータベースを有するサーバと前記サーバと通信回線で接続されたクライアント端末から構成される障害分析システムにおいて、前記サーバは、前記ハードウェア製品を構成する部品を特定する第一の情報と、前記ハードウェア製品を納入した顧客を特定する第二の情報と、前記ハードウェアに発生した障害を部品単位で特定する第三の情報を取得し、前記第一、第二、第三の情報から顧客単位に障害発生件数を区分けした第一のデータベースと、製品単位に発生した障害を部品毎に区分けした第二のデータベースと、部品単位に発生した障害件数を区分けした第三のデータベースを作成することを特徴とする障害分析システム。

IPC (4件)：

G06F 17/60 138 ,  G06F 17/60 106 ,  G06F 17/30 170 ,  G06F 17/30 220

FI (4件)：

G06F 17/60 138 ,  G06F 17/60 106 ,  G06F 17/30 170 Z ,  G06F 17/30 220 Z

Fターム (4件)：

5B075ND20 ,  5B075NS01 ,  5B075NS10 ,  5B075UU40

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 装置識別装置、管理装置、および記録媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-093072   出願人：富士通株式会社
• 障害部品管理データベースにおける部品管理データ解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-177726   出願人：富士通株式会社
• 特開平4-287274
  
• 特開平4-287274