特許
J-GLOBAL ID：200903025721677956
アレイ基板およびその検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-359416
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180885
出願日： 1998年12月17日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】 製造コストの上昇を可及的に抑制するとともに検査を容易に行うことのできることを可能にする。【解決手段】 複数の画素電極がマトリクス状に配置された画素領域部24a,24bと、制御信号に基づいて入力されるシリアル画像信号を直並列変換するシフトレジスタを含む駆動回路部12a,12b,13a,13bと、制御信号を駆動回路に入力するための入力端子6,7と、を各々が有する第1および第2のデバイスアレイ2,3を基板上に備えたアレイ基板において、第1のデバイスアレイのシフトレジスタの一出力と、第2のデバイスアレイの入力端子とを接続する接続配線11aを基板上に備えたことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
複数の画素電極がマトリクス状に配置された画素領域部と、制御信号に基づいて入力されるシリアル画像信号を直並列変換するシフトレジスタを含む駆動回路部と、前記制御信号を前記駆動回路に入力するための入力端子と、を各々が有する第1および第2のデバイスアレイを基板上に備えたアレイ基板において、前記第1のデバイスアレイの前記シフトレジスタの一出力と、前記第2のデバイスアレイの前記入力端子とを接続する接続配線を基板上に備えたことを特徴とするアレイ基板。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02F 1/1345
, H01L 21/66 F
2H092GA59
, 2H092MA37
, 2H092MA55
, 2H092MA57
, 2H092NA30
, 4M106AA02
, 4M106AB20
, 4M106AC20
, 4M106BA14
, 4M106DJ38
