特許
J-GLOBAL ID:200903025758610940

超音波探傷装置、この超音波装置の感度補正方法および超音波探傷方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 上野 登
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-058633
公開番号(公開出願番号):特開2008-224232
出願日: 2007年03月08日
公開日(公表日): 2008年09月25日
要約:
【課題】測定対象範囲の測定感度が略一定となるような超音波探傷装置、超音波装置の感度補正方法および超音波探傷方法を提供すること。【解決手段】被測定材の表面に沿って配列される複数の超音波振動子111と、受信した超音波エコーを記憶できる波形記憶手段125と、この波形記憶手段125の内容から測定範囲内の任意の位置に焦点が位置する超音波ビームを位相合成するとともに超音波ビームのエコーを算出する任意焦点波形合成部13と、補正用の被測定材2を用いて任意焦点波形合成部13が算出したエコーに基づいて実際の被測定材3のエコーに乗ずるための補正係数を算出し記憶する補正係数演算部15と、実際の被測定材に対する測定において前記任意波形合成部13が算出したエコーに補正係数を乗じた値に基づいて実際の被測定材3の状態を判定する判定部14を有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
「ダイナミックフォーカス方式」の超音波探傷装置であって、 被測定材の表面に対向して配列される複数の超音波振動子を有する配列形探触子と、 前記各超音波振動子が受信した超音波エコーを波形データとして前記超音波振動子ごとに記憶できる波形記憶手段と、 該波形記憶手段の内容を読み出して測定範囲内の任意の位置に焦点が位置する超音波ビームを位相合成できるとともに該位相合成された超音波ビームのエコーを算出する任意焦点波形合成部と、 実際の被測定材のエコーに乗ずるための補正係数を算出し記憶する補正係数演算部と、 実際の被測定材に対する測定において前記任意波形合成部が算出したエコーに前記補正係数を乗じた値に基づいて前記実際の被測定材の状態を判定する判定部と、 を有することを特徴とする超音波探傷装置。
IPC (2件):
G01N 29/30 ,  G01N 29/04
FI (2件):
G01N29/22 506 ,  G01N29/08 504
Fターム (20件):
2G047AA07 ,  2G047AB01 ,  2G047BB01 ,  2G047BB05 ,  2G047BC03 ,  2G047BC08 ,  2G047BC09 ,  2G047CA01 ,  2G047DB02 ,  2G047DB17 ,  2G047EA05 ,  2G047GB02 ,  2G047GB18 ,  2G047GE01 ,  2G047GE02 ,  2G047GF06 ,  2G047GF19 ,  2G047GG09 ,  2G047GG41 ,  2G047GJ22
引用特許:
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (9件)
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引用文献:
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