CTスキャンにおける自動露出制御方法と装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山口巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-329564
公開番号（公開出願番号）：特開2004-113791
出願日： 2003年09月22日
公開日（公表日）： 2004年04月15日
要約：

【課題】CTスキャンにおいて自動露出制御を行う方法および装置を改良する。【解決手段】露出制御装置は対象の周囲でのX線焦点の1旋回の第1半分中に、該半分において放射線検出器で生成した電気信号から該対象のスライスの実際減衰プロファイルを計算し、該プロファイルから旋回の第2半分に対するスライスの外挿減衰プロファイルを計算し、該プロファイルに依存して旋回の第2半分中にX線源により照射した放射線量を変更すべく、例えば管電流等のX線源の操作パラメータを調整する。外挿減衰プロファイルは、現在スキャン中のスライスの画像内で規定の目標ピクセルノイズを達成すべく計算する。多数のスライスからなるスパイラルスキャンでは、各々様々な目標ピクセルノイズ値を使用すると、現在スキャン中の対象の、スライスの放射線吸収線量に依存して各スライスのスキャン時の放射線線量を適切に設定できる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

焦点からX線ビームを照射するX線源であって、該X線源が前記X線ビームと関連する放射線量を決定する少なくとも1種の操作パラメータを有するX線源と、前記X線ビームが入射する放射線検出器であって、前記X線ビームが前記対象によって減衰した後に前記放射線検出器上に入射し、その上へのX線入射に依存して前記放射線検出器が電気信号を生成するように前記X線源およびX線検出器がそれらの間に対象を受け入れるために適合する放射線検出器と、 CTスキャンを実施するために前記対象の周囲での少なくとも1旋回を経て回転可能である少なくとも前記焦点であって、このとき前記電気信号が前記対象の1スライスに対する投影データを形成する前記焦点と、それらから前記スライスの画像を再構築するために前記投影データが供給されるコンピュータと、前記旋回の第1半分中に前記旋回の第1半分において生成される前記電気信号から前記スライスの実際減衰プロファイルを計算し、前記実際減衰プロファイルから前記旋回の第2半分に対する前記スライスの外挿減衰プロファイルを計算し、更に該プロファイルに依存して前記旋回の第2半分中の前記放射線線量を変更すべく前記少なくとも1種の操作パラメータを調整するために前記放射線検出器およびX線源へ接続された制御装置とを含むコンピュータ断層撮影装置。

IPC (2件)：

A61B6/03 , H05G1/44

FI (2件)：

A61B6/03 330B , H05G1/44 A

Fターム (25件)：

4C092AA01 , 4C092AB02 , 4C092AC01 , 4C092AC17 , 4C092CC03 , 4C092CD03 , 4C092CD05 , 4C092CE01 , 4C092CF07 , 4C092CF14 , 4C092CF25 , 4C092CF38 , 4C092CF42 , 4C092DD03 , 4C093AA22 , 4C093BA10 , 4C093CA34 , 4C093EA02 , 4C093EB28 , 4C093FA18 , 4C093FA43 , 4C093FA46 , 4C093FA59 , 4C093FD07 , 4C093FD11

引用特許：

出願人引用 (5件)

米国特許第5400387号明細書
米国特許第5696807号明細書
米国特許第6094468号明細書

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