特許
J-GLOBAL ID：200903025795890112

試料分析装置

発明者：
千代 知成

千代 知成 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-272169
公開番号（公開出願番号）：特開2007-085775
出願日： 2005年09月20日
公開日（公表日）： 2007年04月05日
要約：
【課題】 算出時間を増大することなく、光の入射点近傍から遠方までの全領域において、試料の光学特性値分布の算出精度を向上させる。【解決手段】 パルス上の非散乱入射光L1が被測定部9へ照射された場合には、該入射用ファイバ10aから数えて50本より遠方の遠方領域内に配設されている検出用ファイバ12と接続された光計測部25で計測された時間プロファイルが信号処理部30へ出力される。また、パルス状の、散乱体18により散乱された散乱入射光L2が被測定部9へ照射された場合には、該入射用ファイバ10bから数えて50本以内の近傍領域に配設されている検出用ファイバ12と接続された光計測部25で計測された時間プロファイルが信号処理部30へ出力される。このため、入射光の入射点から所定距離内の近傍領域においても拡散近似を適用することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料に光を照射する光照射手段と、該試料内を伝播した光の光情報を、前記試料の複数点から取得し、この取得した光情報に対して拡散近似法を適用して、前記試料内の特性を算出する光情報取得・処理手段とを有する試料分析装置において、 前記光照射手段が、非散乱光または散乱媒質により散乱された散乱光を射出するものであり、 前記光情報取得・処理手段が、前記試料への前記光の入射点から所定距離内の近傍領域においては前記散乱光の照射に起因して伝播した光の光情報を用いて、また前記入射点から近傍領域より遠方に位置する遠方領域においては前記非散乱光の照射に起因して伝播した光の光情報を用いて前記試料内の特性を算出するものであることを特徴とする試料分析装置。
IPC (2件)：
G01N 21/17 ,  G01N 21/64
FI (2件)：
G01N21/17 610 ,  G01N21/64 F
Fターム (31件)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA01 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043FA01 ,  2G043FA03 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059DD01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059FF02 ,  2G059FF04 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)
引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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