特許
J-GLOBAL ID：200903025816120444
X線CT装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-243549
公開番号（公開出願番号）：特開2002-055062
出願日： 2000年08月11日
公開日（公表日）： 2002年02月20日
要約：
【要約】【課題】 中心位置校正治具と試料を載せ替えする必要もないX線CT装置を提供する。【解決手段】 校正治具付き試料台10を回転台3aに装着し、試料11を中央にセットする。試料台3に設けられた回転台3aを昇降させ、上下にX線透過性の良い材料に埋設されたタングステン線10aをX線ビーム高さに位置する。そして、回転走査し回転中心位置のずれを検出器6で検出記憶する。次に試料11をX線ビーム高さに位置し、回転走査して検出器6からデータ処理装置7にデータ収集する。得られたデータから断層像を再構成する時に、前記回転中心位置のずれのデータ値だけ空間座標をずらせて畳込み演算と逆投影演算を行い、回転中心の校正をソフトによって自動で行い、断層像を得る。
請求項（抜粋）：
回転するテーブル上の試料を中心に、X線管とそれに対向してX線検出器を配置し、回転して得られた試料のX線透過データからその断層像を再構成するX線CT装置において、試料をセットする空間の上下の中心に、金属線を垂直に埋設したX線透過性の良いブロックからなる中心位置校正治具付き試料台と、その試料台を上方及び下方に移動させることができる昇降機構と、その昇降機構により前記金属線をX線走査位置に移動させ試料台を回転することによって2本の前記金属線のX線像位置の移動ずれを検出記憶する回路とを設け、試料を回転走査して得られたデータから断層像を再構成する時に前記移動ずれのデータ値だけ空間座標をずらせて畳込み演算と逆投影演算を行い回転中心の校正を自動でできるようにしたことを特徴とするX線CT装置。
Fターム (20件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001DA09
, 2G001FA06
, 2G001FA08
, 2G001FA16
, 2G001GA04
, 2G001HA08
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G001JA08
, 2G001PA11
, 2G001PA12
, 2G001PA14
, 2G001QA01
, 2G001QA10
, 2G001SA10
