特許
J-GLOBAL ID：200903025835961700
特性専用測定トランジスタ,特性検査方法及び液晶表示パネル
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡本 啓三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-204358
公開番号（公開出願番号）：特開平7-056192
出願日： 1993年08月18日
公開日（公表日）： 1995年03月03日
要約：
【要約】【目的】 本発明は特性専用測定トランジスタの改善に関し、液晶表示パネルを構成する薄膜トランジスタの特性検査をするトランジスタであって、当該薄膜トランジスタ基板の作成時及び表示パネルの加工後においても、被検査対象の特性を正確に把握すること。【構成】 特性専用測定トランジスタが薄膜トランジスタから成り、そのソース,ドレイン及びゲートの各検査端子が導電性材料により取り囲まれ、導電性材料が周辺共通線に接続される。また、そのドレイン引出し電極,ゲート引出し電極及びソース引出し電極が局部共通線に電気的に接続され、局部共通線が周囲共通線に電気的に接続される。さらに、そのドレインとゲートとが電気的に接続される。また、そのソース,ドレイン及びゲートと、各ドレイン引出し電極,ゲート引出し電極及びソース引出し電極の一部とが液晶表示パネルの液晶を画定するシール内側に設けられる。
請求項（抜粋）：
液晶表示パネルを構成する薄膜トランジスタの特性検査をする特性専用測定トランジスタにおいて、前記特性専用測定トランジスタが薄膜トランジスタから成り、前記薄膜トランジスタのソース,ドレイン及びゲートの各検査端子が導電性材料により取り囲まれ、前記導電性材料が周辺共通線に接続されることを特徴とする特性専用測定トランジスタ。
IPC (4件)：
G02F 1/136 500
, G02F 1/1343
, H01L 21/66
, H01L 29/786
