特許

J-GLOBAL ID：200903025897172419

デジタル直交変調信号のパラメータ測定装置

発明者： 田尻 真介 ,  中田 寿一 ,  野原 健児
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-078977
公開番号（公開出願番号）：特開平9-270827
出願日： 1996年04月01日
公開日（公表日）： 1997年10月14日
要約：

【要約】【目的】 何れの変調形式の変調信号に対しても周波数誤差Ω、キャリア位相φ、シンボルタイミングτを測定可能にする。【構成】 デジタル信号とされた入力直交変調信号を複素ベースバンド信号に変換部7で変換し、その信号を粗信号補正部51で、あらくパラメータを推定し、その推定値で複素ベースバンド信号を補正し、その補正信号のデータ検出を用い、その検出データで送信信号と対応する参照信号を生成部52で生成し、この参照信号と前記補正信号とを用いて、精パラメータ推定部23でパラメータを推定する。

請求項（抜粋）：

入力デジタル直交変調信号を直交検波して複素ベースバンド信号を得る第1手段と、上記複素ベースバンド信号のパラメータをおおまかに推定してその推定値によりその複素ベースバンド信号を補正する第2手段と、その第2手段で補正された複素ベースバンド信号からデータを検出する第3手段と、上記検出したデータを用いて、送信信号と対応する参照信号を生成する第4手段と、上記補正された複素ベースバンド信号と上記参照信号とを用いて、上記入力デジタル変調信号のパラメータを推定する第5手段と、を有するデジタル直交変調信号のパラメータ測定装置。

IPC (3件)：

H04L 27/18 ,  H04B 7/26 ,  H04L 27/00

FI (3件)：

H04L 27/18 A ,  H04B 7/26 K ,  H04L 27/00 A