特許

J-GLOBAL ID：200903025900551671

歪みと温度の分布測定方法及びその装置

発明者： 石岡 昌人
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-356275
公開番号（公開出願番号）：特開2003-156315
出願日： 2001年11月21日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
要約：

【要約】【課題】ブリルアン散乱現象を利用するファイバセンシングの測定原理だけで、長距離に渡って歪みと温度との両方を区別して測定すること。【解決手段】センシング用光ファイバ103における各波長λ1、λ2、...、λnごとのブリルアン散乱の歪み波長依存係数Cε(λ)とその温度波長係数CT(λ)を予め求めておき、センシング用光ファイバ103に入射するポンプ光の各波長ごとのブリルアン周波数シフトの変化を求め、これら計測データλ1[νB(z)]、λ2[νB(z)]、...、λn[νB(z)]を、センシング用光ファイバ103の歪みの変化と温度の変化とに関する2元連立方程式に代入し演算することによりセンシング用光ファイバ103の各位置で発生した歪みの変化Δεと温度の変化ΔTとをそれぞれ識別して同時に求める。

請求項（抜粋）：

センシング用光ファイバ中で発生するブリルアン散乱現象の変化を捉えて被測定物理量の変化を測定する歪みと温度の分布測定方法において、前記センシング用光ファイバにおける各波長ごとのブリルアン散乱の歪み波長依存係数とその温度波長係数を予め求めておき、前記センシング用光ファイバに入射するポンプ光の各波長ごとのブリルアン周波数シフトの変化を求めるステップと、これら測定データを、前記センシング用光ファイバの歪みの変化と温度の変化とに関する2元連立方程式に代入し演算することにより、前記センシング用光ファイバの各位置で発生した前記歪みの変化と前記温度の変化とをそれぞれ識別して同時に求めるステップと、を有することを特徴とする歪みと温度の分布測定方法。

IPC (4件)：

G01B 11/16 ,  G01D 5/26 ,  G01K 11/12 ,  G01M 11/00

FI (4件)：

G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D ,  G01K 11/12 F ,  G01M 11/00 U

Fターム (38件)：

2F056VF03 ,  2F056VF12 ,  2F065AA65 ,  2F065FF00 ,  2F065GG06 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ01 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL23 ,  2F065LL46 ,  2F065LL53 ,  2F065LL57 ,  2F065NN06 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ34 ,  2F065QQ42 ,  2F103BA41 ,  2F103BA43 ,  2F103CA07 ,  2F103EB02 ,  2F103EB05 ,  2F103EB11 ,  2F103EB19 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2F103EC16 ,  2F103ED27 ,  2F103ED37 ,  2F103FA02 ,  2G086DD04 ,  2G086DD05