特許
J-GLOBAL ID:200903025928170460
イオン源及びこれを用いる質量分析装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-201767
公開番号(公開出願番号):特開平8-062200
出願日: 1994年08月26日
公開日(公表日): 1996年03月08日
要約:
【要約】【目的】 キャピラリーに電圧が印加されることなく、イオン化効率の高いイオン源、およびこれを使用する質量分析計を提供する。【構成】 溶液試料は試料溶液供給部1からイオン源2の中のキャピラリーに導入される。ガス供給部3から供給されるガスは流量計4により流量が調節され、キャピラリーの外周部に沿って流され、キャピラリー先端で噴出するように構成されたガスガイド管に導入される。試料溶液はキャピラリー先端部で噴出ガスの作用効果によりイオン化され、質量分析計11で分析される。【効果】 従来のイオン化法の10倍以上のイオン強度が得られ、操作が安全にできる。
請求項(抜粋):
試料溶液を大気中に送出するキャピラリーと、該キャピラリーの外周面に沿って前記キャピラリーの先端部までガス流を形成するために前記先端部が挿入されるガスガイド管とを具備し、前記ガスの標準状態(20°C、1気圧)に換算した流量Fと、前記先端部の外周面と前記ガスガイド管との間の空間の、前記先端部の近傍でのキャピラリー中心軸に直交する断面の最小面積Sとから定まる前記ガス流に関する特性値F/Sが所定の範囲にあり、大気中に送出された前記試料溶液が前記ガス流により前記先端部近傍においてイオン化されることを特徴とするイオン源。
IPC (7件):
G01N 30/72
, G01N 27/62
, H01J 27/26
, H01J 37/05
, H01J 37/08
, H01J 49/04
, H01J 49/10
引用特許:
審査官引用 (6件)
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特開平4-002033
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質量分析計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-012816
出願人:株式会社日立製作所
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特開平4-127050
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