特許

J-GLOBAL ID：200903026002923496

スミア除去回路

発明者： 中莖 俊朗 ,  東堤 良仁
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 岡田 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-076817
公開番号（公開出願番号）：特開平9-270957
出願日： 1996年03月29日
公開日（公表日）： 1997年10月14日
要約：

【要約】【課題】 固体撮像素子で情報電荷の垂直転送時に発生する垂直スミアを除去する。【解決手段】 第1の除去回路10で、各受光ビットを通過する際に発生するスミア電荷の量を、その受光ビットに受光期間中に蓄積される情報電荷量から蓄積時間と通過時間との比に基づいて推定し、転送経路にある受光ビットの分だけ累加算して第1のスミア成分を算出する。第2の除去回路で、第1のスミア成分を差し引いた後に残される第2のスミア成分を1行分保持させ、飽和状態となっている受光ビットの位置に対応させて選択的に差し引くようにする。

請求項（抜粋）：

複数の受光ビットが行方向及び列方向に配列された受光部を有する固体撮像素子から、所定の期間に各受光ビットに蓄積される情報電荷を一定の周期で列方向に転送すると共に、1行ずつ順次行方向に転送出力して得られる画像信号に対し、情報電荷の列方向の転送過程で混入する垂直スミア成分を除去するスミア除去回路において、上記固体撮像素子の各受光ビットに蓄積された情報電荷量から情報電荷の蓄積時間と情報電荷の列方向への転送周期との比に基づいて推定した各受光ビット毎のスミア電荷量を情報電荷の垂直転送経路にある受光ビットの分だけ累加算し、上記固体撮像素子の各受光ビットに蓄積される情報電荷量を表す1行単位で連続する第1の画像データから上記累加算値を個々に差し引いて第2の画像データを得る第1の除去回路と、上記固体撮像素子の受光部を列方向に縦断して転送する過程で蓄積される電荷量から上記第1の除去回路で累加算値を差し引いた後に残留する電荷量を1行単位で保持し、各列の飽和エリアの検出に応答して上記第2の画像データから上記保持値を各列毎に選択的に差し引いて第3の画像データを得る第2の除去回路と、を備えたことを特徴とするスミア除去回路。