特許
J-GLOBAL ID：200903026008996134
ラップ加工寸法測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大場 充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-176543
公開番号（公開出願番号）：特開平8-039424
出願日： 1994年07月28日
公開日（公表日）： 1996年02月13日
要約：
【要約】【目的】 本発明はラップ加工において、ラップ治具に帖り付けた被加工物の加工量を、ラップ加工中に高精度で計測することを目的とする。【構成】 修正リングとラップ治具を同期して回転させ、変位検出器によって個別に取付けた検知部材との距離を同時に測定して、2つの測定値の差の変化量を加工量とする。
請求項（抜粋）：
ラップ定盤上に修正リング中に被加工物を固定したラップ治具を篏合させて載置してラップ加工する方法において、修正リングとラップ治具を接合して、同期回転させ、修正リング上方に設けた変位検出器によって、修正リング上部に取付けた検知部材までの距離を測定するタイミングに合せて、ラップ治具上方に設けた変位検出器によって、該変位検出器に対応する位置に取付けたラップ治具上部の検知部材までの距離を測定し、ラップ治具に係る測定値と修正リングに係る測定値の差をラップ加工量と算出することを特徴とするラップ加工寸法測定方法。
IPC (2件)：
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