特許
J-GLOBAL ID：200903026039243584
三次元形状測定装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
小谷 悦司
, 伊藤 孝夫
, 樋口 次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-174096
公開番号（公開出願番号）：特開2008-002995
出願日： 2006年06月23日
公開日（公表日）： 2008年01月10日
要約：
【課題】1つの測定対象物の形状測定を複数回、少なくとも一部分がオーバーラップするように行い、得られた測定データを統合して1つのデータとするにあたって、ユーザの負担を軽減するとともに、オーバーラップ部分のデータ品質を向上する。【解決手段】(a)において参照符号A1,A2で示すように異なるアングルから測定を行い、得られた(b)で示すアングルA1の測定データと(c)で示すアングルA2の測定データとの位置合わせを行うにあたって、参照符号A3で示すようにオーバーラップ部分A4にノイズが発生していると、この部分のデータは信頼度が低く、位置合わせに使用しない。したがって、ユーザがデータの選択を行うことなく、そのまま位置合わせをしてしまうと(d)で示すようにデータ全体がシフトしてしまうのに対して、(e)で示すように高精度に位置合わせすることができる。【選択図】図19
請求項（抜粋）：
測定対象物の三次元形状を非接触で測定する三次元形状測定装置において、
前記測定対象物の形状測定を複数回、少なくともそれぞれの測定領域の一部分がオーバーラップするように行う測定手段と、
得られた測定データを統合するデータ統合手段とを備え、
前記データ統合手段は、前記複数の測定データ間の信頼度情報を用いてデータ統合を行うことを特徴とする三次元形状測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (18件)：
2F065AA53
, 2F065BB06
, 2F065CC00
, 2F065FF02
, 2F065FF05
, 2F065FF06
, 2F065FF09
, 2F065FF10
, 2F065GG06
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL13
, 2F065MM16
, 2F065QQ03
, 2F065QQ18
, 2F065QQ24
, 2F065QQ42
