特許
J-GLOBAL ID：200903026143065426
部品実装基板の外観検査装置における被検査部の認識方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-014952
公開番号（公開出願番号）：特開平8-210820
出願日： 1995年02月01日
公開日（公表日）： 1996年08月20日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、複数の照明により得られる映像を基に対象の外観等を検査する装置において複数の映像を基に対象部品の位置や方向を検出するための処理方法の改善を目的とする。具体的には、ICなど電子部品のはんだ接合部の良否検査を行う検査装置において、同一の映像を利用し、部品の実装位置ずれや実装極性の判別を行うのに適した画像抽出処理、および認識処理方式の改善を目的としている。【構成】 本発明の基本構成は上記目的を達成するため、テレビカメラから得られる1ないし複数の対象映像を利用し、以下の手順で対象の認識を実行する。1)対象位置概略区分処理、2)対象映像サンプリング、3)2値化など映像変換処理、4)対象位置精密検出
請求項（抜粋）：
基板上に実装された部品の取付け位置や方向等の取付け状態の検査方法において、被検査対象を撮像した映像信号から各画素の輝度レベルを検出し、該輝度レベル情報の検査対象範囲内の典型的な特性を示す特定範囲の前記輝度レベルをサンプリングし、該サンプリングした輝度レベルからしきい値を求め、該しきい値により検査範囲内の各画素をその状態別に分類し、該分類された画素のパターンから前記被検査部の部品取付け状態を認識することを特徴とする外観検査装置における被検査部の認識方法
IPC (5件)：
G01B 11/24
, G01B 11/00
, G01N 21/88
, G06T 5/00
, H05K 13/08
