特許
J-GLOBAL ID：200903026147202029
非破壊検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 祐介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-221084
公開番号（公開出願番号）：特開平11-051879
出願日： 1997年07月31日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：
【要約】【課題】 簡単・コンパクトな機構で高速に断層像を得て検査を効率化する。【解決手段】 基台40上で揺動基板21、31を連動して所定角度範囲で揺動させることにより、X線管装置10からX線照射される被検査体20およびその透過X線が入射するX線面センサ30を同じ角度だけ同期回転させ、その揺動中の画像をX線面センサ30で蓄積し、揺動の1往復で蓄積された画像データを画像処理装置32で処理した後画像表示装置33に送って表示する。
請求項（抜粋）：
固定された放射線発生手段と、回転する被検査体保持手段と、該回転に対応して同一角度回転し、その回転中の画像を蓄積する放射線像撮像手段とを備えることを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 23/04
, G03B 42/02 Z
