特許
J-GLOBAL ID：200903026150785019
画像形成装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-280440
公開番号（公開出願番号）：特開平6-110285
出願日： 1992年09月25日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：
【要約】【目的】環境、経時の変化による画像濃度の変動を、メンテナンスに頼らず、また、メンテナンスの周期よりも短いサイクルで適正化でき、高い画像濃度の安定性が達成できる画像形成装置を提供する。【構成】感光体ドラム2上に高濃度と低濃度のテストパターンを形成し、この2つのテストパターンに対するトナーの付着量をトナー濃度計測部8で計測する。制御部36は、この計測された高濃度部と低濃度部のトナー付着量とあらかじめ設定されるそれぞれの目標値との偏差を算出し、この算出された各偏差がそれぞれ所定範囲内でないとき、それらの各偏差の関係から、光学系13の露光条件と現像器4のバイアス電圧、あるいは、光学系13の露光量と帯電器3および現像器4のバイアス電圧、あるいは、帯電器3および現像器4のバイアス電圧と光学系13の発光時間を設定変更する。
請求項（抜粋）：
像担持体上に画像データに基づいて高濃度部および低濃度部の潜像を形成し、発光強度または発光時間などの露光条件が変更可能な露光手段と、バイアス電圧が印加され、前記露光手段で形成された前記像担持体上の高濃度部および低濃度部の潜像を現像剤で現像する現像手段と、この現像手段の現像により前記像担持体上に付着した高濃度部および低濃度部に対する現像剤の付着量をそれぞれ計測する現像剤付着量計測手段と、この現像剤付着量計測手段で計測された高濃度部および低濃度部の各計測値とあらかじめ設定されるそれぞれの目標値との偏差をそれぞれ算出する第1の算出手段と、この第1の算出手段で算出された各偏差がそれぞれ所定範囲内にあるか否かを判定する判定手段と、この判定手段により所定範囲内にないと判定されると、それらの各偏差の関係から前記露光手段の露光条件の変更に係る第1の変更量情報と、前記現像手段のバイアス電圧と前記像担持体の露光部電位との差であるコントラスト電位、および、前記現像手段のバイアス電圧と前記像担持体の未露光部電位との差である背景電位の変更に係る第2の変更量情報を算出する第2の算出手段と、この第2の算出手段で算出された第1の変更量情報によって前記露光手段の露光条件を変更し、第2の変更量情報によって前記現像手段のバイアス電圧を変更する制御手段とを具備したことを特徴とする画像形成装置。
IPC (6件)：
G03G 15/00 303
, B41J 2/525
, G03G 15/04 120
, G03G 15/06 101
, H04N 1/23 103
, H04N 1/29
