特許
J-GLOBAL ID：200903026283138385
粒子分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-275422
公開番号（公開出願番号）：特開平7-128217
出願日： 1993年11月04日
公開日（公表日）： 1995年05月19日
要約：
【要約】【構成】 電解液を収容した第1および第2セルと両セルを連通する細孔を有し電解液に浮遊させた粒子をシース液で包み細孔を通過させるフローセルと、第1および第2セルの電解液中にそれぞれ設けられた電極間に電圧を印加する電圧印加手段と、粒子が細孔を通過する時の電極間の電気抵抗の変化を検出する抵抗検出手段と、シース液に包まれた粒子の流れに光ビームを照射する光源手段と、照射された粒子の散乱光の強度を検知する光検知手段と、抵抗検出手段の出力に基づいて粒子の粒径を算出する第1の粒径算出手段と、抵抗検出手段および光検知手段の出力に基づいて粒子の屈折率を算出する屈折率算出手段と、算出された屈折率と光検知手段の出力に基づいて粒子の粒径を算出する粒径算出手段を備える。【効果】 粒径測定レンジを拡大することができる。散乱光情報しか得られないような小さな粒子についても、それより大きな粒子群に対して得られた体積相当径と散乱光強度の関係から、その粒子の屈折率を推定して、粒径を求めることができる。
請求項（抜粋）：
第1および第2セルと両セルを連通する細孔を有し、電解液に浮遊させた粒子をシース液で包み細孔を通過させるフローセルと、第1および第2セルの電解液中にそれぞれ設けられた電極間に電圧を印加する電圧印加手段と、粒子が細管を通過する時の電極間の電気抵抗の変化を検出する抵抗検出手段と、シース液で包まれた粒子の流れに光ビームを照射する光源手段と、抵抗検出手段の出力に基づいて粒子の粒径を算出する第1の粒径算出手段と、照射された粒子の散乱光の強度を検知する光検知手段と、抵抗検出手段および光検知手段の出力に基づいて粒子の屈折率を算出する屈折率算出手段と、算出された屈折率と光検知手段の出力に基づいて粒子の粒径を算出する第2の粒径算出手段を備えた粒子分析装置。
IPC (3件)：
G01N 15/10
, G01N 15/12
, G01N 15/14
