特許
J-GLOBAL ID：200903026330526216
指向性インダクション検層法および装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
阿部 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-149842
公開番号（公開出願番号）：特開平6-342081
出願日： 1993年05月31日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：
【要約】【目的】 孔井周辺の数mにわたる周方向の導電率分布の計測を可能にする。【構成】 ボーリング孔7の中に孔軸18に沿って、最低1個の送信コイル1と最低1個の受信コイル2とを、互いに向き合うように傾斜させて配置し、指向性を持たせてボーリング孔周辺の地層の電気的特性を調査する。
請求項（抜粋）：
ボーリング孔7の中に孔軸18に沿って、最低1個の送信コイル1と最低1個の受信コイル2とを、互いに向き合うように傾斜させて配置し、指向性を持たせてボーリング孔周辺の地層の電気的特性を調査する指向性インダクション検層法。
IPC (2件)：
前のページに戻る
