特許
J-GLOBAL ID：200903026374174651
エッジ検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-032999
公開番号（公開出願番号）：特開平6-241751
出願日： 1993年02月23日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：
【要約】【目的】安定してエッジを検出することを可能とする。【構成】認識対象物体を撮像して得られた濃淡画像を、局所空間微分して濃度勾配ベクトル画像を求める。この濃度勾配ベクトル画像の各画素を順次着目画素とし、濃度勾配ベクトルの大きさ及び第1及び第2の係数からエッジ評価値を演算する。ここで、濃度勾配ベクトルの大きさは、着目画素を中心とする特定の処理範囲内にある画素の濃度勾配ベクトルの大きさである。また、第2の係数は、着目画素の濃度勾配ベクトルの方向と処理範囲内にある画素の着目画素からの位置により決まる方向との関係により決定される係数である。第2の係数は、着目画素における濃度勾配ベクトル方向と処理範囲内にある画素における濃度勾配ベクトル方向との一致度を示す係数である。上記エッジ評価値を用いてエッジ検出を行う。
請求項（抜粋）：
認識対象物体を撮像手段によって撮像し、得られた濃淡画像を局所空間微分して濃度勾配ベクトルを得て、この濃度勾配ベクトルの大きさと方向よりなる濃度勾配ベクトル画像を求め、この濃度勾配ベクトル画像の各画素を順次着目画素とし、この着目画素を中心とする特定の処理範囲内にある画素の濃度勾配ベクトルの大きさと、着目画素の濃度勾配ベクトルの方向と処理範囲内にある画素の着目画素からの位置により決まる方向との関係により決定される第1の係数と、着目画素における濃度勾配ベクトル方向と処理範囲内にある画素における濃度勾配ベクトル方向との一致度を示す第2の係数とからエッジ評価値を演算し、エッジ評価値を用いてエッジ検出を行って成ることを特徴とするエッジ検出方法。
IPC (2件)：
G01B 11/24
, G06F 15/70 335
