特許
J-GLOBAL ID:200903026408581995
顕微赤外分光分析用試料台
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石井 良和
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-251437
公開番号(公開出願番号):特開2001-074620
出願日: 1999年09月06日
公開日(公表日): 2001年03月23日
要約:
【要約】【課題】安価に製造できる顕微赤外分光分析用の試料台を提供する。【解決手段】スライドガラス10の表面に真空蒸着によって金薄薄膜2を形成した。この薄膜2上に試料3を載せ、顕微赤外分光分析をおこなう。膜厚を調整することによって可視光が薄膜を透過するので試料の測定部位を観察することができ、さらに、試料を低温灰化する場合にも試料台として使用でき、低温灰化した試料をそのまま顕微赤外分光分析の測定ができるので能率的である。
請求項(抜粋):
ガラス板に金属膜を形成した顕微赤外分光分析用試料台。
IPC (5件):
G01N 1/28
, G01N 21/01
, G01N 21/27
, G02B 21/34
, G01N 1/22
FI (5件):
G01N 1/28 W
, G01N 21/01 B
, G01N 21/27 E
, G02B 21/34
, G01N 1/22 T
Fターム (10件):
2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059DD13
, 2G059FF03
, 2G059HH01
, 2G059JJ01
, 2H052AC05
, 2H052AC13
, 2H052AE03
, 2H052AF07
引用特許:
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