特許
J-GLOBAL ID:200903026433839417

計測用カメラ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森本 義弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-117728
公開番号(公開出願番号):特開平7-324917
出願日: 1994年05月31日
公開日(公表日): 1995年12月12日
要約:
【要約】【目的】 精度・分解能に優れ、機構が簡易な計測用カメラを提供する。【構成】 固体撮像素子を用いた2次元平面センサ3と、2次元平面センサ3より1次元方向の画素数が多い固体撮像素子を用いた1次元ラインセンサ4と、2次元平面センサ4に導光される被計測物体の反射光を、1次元ラインセンサ4に導くハーフミラー2と、2次元平面センサ3の撮像信号を入力し、被計測物体の形状を特定する特異点を検出し、この特異点部位の上記反射光が1次元ラインセンサ4へ入光する反射角度を演算し、ハーフミラー2の駆動装置5へこの演算した反射角度の駆動信号を出力するする制御回路を備える。【効果】 特異点部位の反射光が1次元ラインセンサ4に入光することにより、1次元ラインセンサ4により特異点部位を詳細に精度・分解能よく計測することができ、全体の形状を明瞭とすることができる。
請求項(抜粋):
固体撮像素子を用いた2次元平面センサと、前記2次元平面センサより1次元方向の画素数が多い固体撮像素子を用いた1次元ラインセンサと、前記2次元平面センサに導光される被計測物体の反射光を、前記1次元ラインセンサに導くハーフミラーと、前記2次元平面センサの撮像信号を入力し、前記被計測物体の形状を特定する特異点を検出し、この特異点部位の上記反射光が前記1次元ラインセンサへ入光する反射角度を演算し、前記1次元ラインセンサあるいはハーフミラーの少なくとも一方をこの演算した反射角度へ駆動する制御手段を備えたことを特徴とする計測用カメラ。

前のページに戻る