特許
J-GLOBAL ID：200903026433859760
ダイオードの故障検出回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大胡 典夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-302680
公開番号（公開出願番号）：特開2003-107123
出願日： 2001年09月28日
公開日（公表日）： 2003年04月09日
要約：
【要約】【課題】 広い温度範囲にわたってダイオードの故障を安定に検出できる半導体回路を提供すること。【解決手段】 バイアス電圧を供給するダイオードバイアス回路15と、このダイオードバイアス回路15からバイアス電圧が印加されるPINダイオード12aと、ダイオードバイアス回路15とPINダイオード12aとの間の検出点Pにベース電極Bが接続されたトランジスタQ1とを具備したダイオードの故障検出回路において、トランジスタQ1のベース電極Bとエミッタ電極E間に、温度によって抵抗値が変化する抵抗回路Rを接続している。
請求項（抜粋）：
バイアス電圧を供給するバイアス回路と、このバイアス回路から前記バイアス電圧が印加されるダイオードと、前記バイアス回路と前記ダイオードとの間の検出点にベース電極が接続されたトランジスタとを具備したダイオードの故障検出回路において、前記トランジスタの前記ベース電極と前記エミッタ電極間に、温度によって抵抗値が変化する抵抗回路を接続したことを特徴とするダイオードの故障検出回路。
Fターム (5件)：
2G003AA04
, 2G003AB18
, 2G003AE01
, 2G003AH00
, 2G003AH05
