特許
J-GLOBAL ID:200903026457475637

低熱伝導性シートの熱伝導率測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中尾 俊輔 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-279541
公開番号(公開出願番号):特開平7-134108
出願日: 1993年11月09日
公開日(公表日): 1995年05月23日
要約:
【要約】【目的】 紙や樹脂製フィルムのような低熱伝導性シートの熱伝導率を該シート1枚で精度よく簡便に測定する方法を提供する。【構成】 発熱源から被測定物たる低熱伝導性シート2に熱伝導により熱を与えたとき、該発熱源およびその近傍の過渡的な温度変化を測定することにより、該低熱伝導性シート2の熱伝導率を求める低熱伝導性シートの熱伝導率測定方法において、前記発熱源は通電加熱した帯状金属細線11であり、該帯状金属細線11は熱伝導率が既知の基準物質3の表面上に形成されており、該帯状金属細線11を含む該基準物質3の表面には前記低熱伝導性シート2が接触しており、前記発熱源およびその近傍の過渡的な温度変化の測定は、該帯状金属細線11の電気抵抗値の変化を測定することによりなされることを特徴とする。
請求項(抜粋):
発熱源から被測定物たる低熱伝導性シートに熱伝導により熱を与えたとき、該発熱源およびその近傍の過渡的な温度変化を測定することにより、該低熱伝導性シートの熱伝導率を求める低熱伝導性シートの熱伝導率測定方法において、前記発熱源は通電加熱した帯状金属細線であり、該帯状金属細線は熱伝導率が既知の基準物質の表面上に形成されており、該帯状金属細線を含む該基準物質の表面には前記低熱伝導性シートが接触しており、前記発熱源およびその近傍の過渡的な温度変化の測定は、該帯状金属細線の電気抵抗値の変化を測定することによりなされることを特徴とする低熱伝導性シートの熱伝導率測定方法。

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